波面センサー適応型光学システムの最も重要なコンポーネントの1つであり、適応光学システムの最終的な変調結果を決定します。同時に、波面センサーレーザー、天文学、顕微鏡、眼科などの複雑な適応光学システムの波面異常検出でますます重要な役割を果たします。強度検出、および高精度の光学成分の表面品質検出。
波面センサー技術開発の歴史に従って、3つの段階に分けることができます。最初の段階では、1900年にドイツの科学者ハートマンは、穴を掘るために掘削の開口技術を使用して、波面を検出するために使用できる世界初のセンサーを生成しました。第2段階の1971年、R.K.Shackは、レンズアレイを使用して、より正確なShack-Hartmann WaveFront Analyzerの開発に成功しました。 2000年、フランスのPhasics R＆Dチームは、4波せん断干渉法を使用した4波横方向のせん断干渉法に基づいた波面検出器を成功裏に開発しました。この波面検出器には、高解像度、高ダイナミックレンジ、高感度、高感度、高い相対精度、補正の必要性、小さいサイズ、簡単な動作の特性があります。
