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512×512（262144）位相点の超高分解能により、900nm～1200nm帯の高精度波面測定を実現。光学系収差測定、光学系校正、材料内部格子分布測定、メタサーフェス、スーパーレンズなどに利用可能波面測定など

フライングショットや流れ場などの高速産業、防衛、科学研究シナリオにおける波面解析用に特別に開発され、420×420 (176400) 位相ポイントの超高解像度、400 ～ 1100nm の広いスペクトル応答を備えています。 107 フレームの高速サンプリングにより、ウェーハ表面粗さ検出、シリコンベースおよびガラス基板の微細形態測定に理想的な波面センシング測定ツールを提供します。空力光学、高速流れ場、ガスプラズマ密度測定など

科学研究や高精度の産業シナリオを支援するように設計されており、解像度が高いほど波面検出でより詳細な情報が得られます。超高解像度の 512×512 (262144) 位相点、400 ～ 1100nm の広いスペクトル応答、10 フレームのフル解像度のリアルタイム 3D 結果表示により、レーザービーム波面検出、補償光学、平面測定、光学用の理想的な波面センシング測定ツールを提供します。システムキャリブレーション、光学窓検出、光学球面測定、表面粗さ検出、表面マイクロコンターなど

産業、科学研究、国防における便利な干渉計測定のために特別に開発されました。 300×300（90,000）位相点の高解像度、400～1100nmの広いスペクトル応答、10フレームのフル解像度リアルタイム3D結果表示により、レーザービーム波面検出、補償光学、光学システムに理想的な波面センシング測定ツールを提供しますキャリブレーション、光学窓検出、光学平面形状、球面形状測定、表面粗さ、表面微小輪郭検出、など