ランダムコード化された 4 波回折の特許技術と赤外線カメラを組み合わせた近赤外線波面分析装置により、通常のイメージング システムによる干渉測定が可能になります。非常に高い耐振動性と安定性を誇り、防振を必要とせずにナノメートルレベルの高精度測定が可能です。材料の内部格子分布の測定や、メタサーフェスやハイパーレンズの波面測定に適しています。
商品名
近赤外波面分析装置
波長範囲
900nm~1200nm
ターゲットサイズ
13.3mm×13.3mm
空間解像度
26μm
サンプリング解像度
512×512(262144ピクセル)
位相分解能
<2nmRMS
絶対精度
15nmRMS
ダイナミックレンジ
270μm(256分)
サンプリングレート
45fps
リアルタイム処理速度
10Hz(フル解像度)
インターフェースの種類
USB3.0
寸法
70mm×46.5mm×68.5mm
重さ
約240g
◆900nm~1200nm帯の広帯域スペクトル
◆2nm RMS の高い位相分解能
◆512×512(262144)位相点の超高解像度
◆単一チャンネル光の自己干渉により参照光は不要
◆最大270μmの広いダイナミックレンジ
◆光学防振が不要な非常に強力な防振性能。
◆イメージングと同じように、簡単かつ迅速な光路構築
◆平行ビームや大NA収束ビームにも対応
この BOJIONG 近赤外線波面分析装置は、光学システムの収差測定、光学システムの校正、材料の内部格子分布の測定、ハイパーサーフェス、ハイパーレンズの波面測定に使用されます。
光学系の収差測定例
材料内部の格子分布のサンプル測定
光学系校正測定例
メタサーフェス波面測定の例
ハイパーレンズ波面測定例
BOJIONG 近赤外線波面分析装置は、浙江大学とシンガポールの南洋理工大学の教授チームによって開発され、国内の特許取得済み技術により、回折と干渉を組み合わせて、一般的な 4 波の横方向せん断干渉を実現し、優れた検出感度と耐衝撃性を備えています。優れた振動性能を実現し、防振なしでリアルタイムかつ高速な動的干渉計測を実現できます。リアルタイム測定では、10 フレームを超えるフレーム レートが示されています。同時に、FIS4センサーは512×512(260,000位相ポイント)の超高位相分解能を備え、測定帯域は200nm~15μmをカバーし、測定感度は2nmに達し、測定再現性は1/1000λより優れています( RMS)。レーザー光品質解析、プラズマ流場検出、高速流場分布のリアルタイム計測、光学系の画質評価、顕微鏡プロファイル計測、生体細胞の定量的位相イメージングなどに使用できます。
FIS4 各シリーズの製品の技術パラメータ
製品
FIS4-UV
FIS4-HR
FIS4 クロック
FIS4-HS
FIS4 セル
FIS4-NIR
200~450nm
400~1100nm
900~1200nm
ターゲットサイズ mm²
13.3×13.3
7.07×7.07
10.24×10.24
23.6μm
24.4μm
画像ピクセル
-
2048×2048
位相出力分解能
512×512
(262144ピクセル)
300×300(90000ピクセル)
420×420(176400ピクセル)
10nmRMS
90μm
(256分)
110μm
(150分)
162μm
132μm
(210分)
270μm
32fps
24fps
107fps
10Hz
(フル解像度)
(フル解像度)遅延バッチ処理をサポート
チョップ
外部インターフェース
Cポート
サイズ mm²
70×46.5×68.5
56.5×43×41.5
約120g
住所
中国上海市楊浦区営口路578号
電話
+86-021-56729166
Eメール
tom.he@shbojiong.com
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