博江(上海)精密機械科技有限公司
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製品
紫外線波面分析装置
  • 紫外線波面分析装置紫外線波面分析装置

紫外線波面分析装置

BOJIONG Optoelectronics は、製品の品質と生産効率を向上させるために、正確な光学性能の測定と分析で顧客を支援することに専念しています。この度、紫外線波面分析装置を発売することになりました。当社の製品とサービスは、光学製造、航空宇宙、生物医学、エネルギー研究などの分野で広く使用されています。当社は常に生産能力を拡大し、技術力を強化し、強固な企業運営体制を確立しています。


この紫外線波面分析装置は、512×512 ピクセル (262,144 位相点) の解像度を誇り、後部焦点面で干渉測定を実行できます。この技術では、光源のコヒーレンス レベルが低いことが必要であり、位相シフトの必要がありません。紫外線イメージング システムを使用すると、デバイスはリアルタイムの波面測定を実現できます。優れた耐振動性と安定性を備えており、防振設備を必要とせずにナノメートルレベルの測定精度を実現します。

 

商品仕様:

 

製品名

紫外線波面分析装置

波長範囲

200nm~450nm

ターゲットサイズ

13.3mm×13.3mm

空間解像度

26μm

サンプリング解像度

512×512(262144ピクセル)

位相分解能

<2nmRMS

絶対精度

10nmRMS

ダイナミックレンジ

90μm(256分)

サンプリングレート

32fps

リアルタイム処理速度

10Hz(フル解像度)

インターフェースの種類

USB3.0

寸法

70mm×46.5mm×68.5mm

重さ

約240g


BOJIONG 紫外線波面分析装置の特徴

 

 

 

◆2nm RMS の高い位相分解能

◆UVスペクトル 200nm~450nm帯

◆512×512(262144)位相点の超高解像度

◆単一チャンネル光の自己干渉により参照光は不要

◆光学防振が不要な非常に強力な防振性能。

◆イメージングと同じように、簡単かつ迅速な光路構築

◆平行ビームと高NA非平行ビームに対応

 

 BOJIONG 紫外線波面分析装置の応用

 

このBOJIONG紫外線波面分析装置は、光学系の収差測定、光学系の校正、平面(ウェーハ)表面の形状測定、光学球面の形状測定などに使用されます。

 

レーザー光波面検出

補償光学ゼルニケモードの波面検出応答

光学系の収差測定例

光学系校正測定例

ウェーハ表面粗さ測定例

マイクロエッチング形状測定 - 欠陥サンプル1# - 114ライン

 


BOJIONG 紫外線波面アナライザーの詳細

 

BOJIONG 紫外線波面分析装置は、浙江大学とシンガポールの南洋理工大学の教授チームによって開発され、国内の特許取得済み技術により、回折と干渉を組み合わせて、一般的な 4 波の横方向せん断干渉を実現し、優れた検出感度と耐振動性能を備えています。 、防振なしでリアルタイムかつ高速な動的干渉計測を実現できます。リアルタイム測定では、10 フレームを超えるフレーム レートが示されています。同時に、FIS4センサーは512×512(260,000位相ポイント)の超高位相分解能を備え、測定帯域は200nm~15μmをカバーし、測定感度は2nmに達し、測定再現性は1/1000λより優れています( RMS)。レーザー光品質解析、プラズマ流場検出、高速流場分布のリアルタイム計測、光学系の画質評価、顕微鏡プロファイル計測、生体細胞の定量的位相イメージングなどに使用できます。


 

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